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探針臺(tái)
CH-12 綜合性分析探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)


最大可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試;

操作便捷,功能其全,高效精準(zhǔn);

可滿足晶片測(cè)試、光電器件測(cè)試、PCB/IC測(cè)試、射頻測(cè)試、高壓大電流測(cè)試等。


  • 規(guī)格參數(shù)
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CINDBEST CH-8|8"~12" 合性分析探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)


特點(diǎn)/應(yīng)用


  • 最大可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試

  • 同軸絲杠傳動(dòng)結(jié)構(gòu),線性移動(dòng)

  • 大手柄驅(qū)動(dòng),操作舒適,無回程差設(shè)計(jì)

  • 針座平臺(tái)快速、微調(diào)升降功能

  • 可搭配多種類型顯微鏡

  • 晶片測(cè)試、光電器件測(cè)試、PCB/IC測(cè)試、射頻測(cè)試、高壓大電流測(cè)試等

  • 結(jié)構(gòu)模塊化設(shè)計(jì),可無縫升級(jí)

  • 探針臺(tái)可根據(jù)客戶要求定制。




◆臺(tái)體規(guī)格
型號(hào) CH-8/CH-12
樣品臺(tái)尺寸 8英寸/12英寸
水平旋轉(zhuǎn) 可360度旋轉(zhuǎn),可微調(diào)15度,精度0.1度,帶角度鎖死裝置
X-Y移動(dòng)行程 8英寸*8英寸/12英寸*12英寸
X-Y移動(dòng)精度 10微米/1微米
樣品固定 真空吸附,中心吸附孔,多圈吸附環(huán)
針座平臺(tái) U型針座平臺(tái),最多可放置10個(gè)探針座
平臺(tái)升降 可快速升降6mm/可微調(diào)升降25mm
背電極測(cè)試 樣品臺(tái)電學(xué)獨(dú)立懸空,4mm插孔可接背電極
外形尺寸 840mm長(zhǎng)*600mm寬*700mm高/950mm長(zhǎng)*700mm寬*700mm高
重量 約100千克/150千克
◆光學(xué)系統(tǒng)
顯微鏡類型 單筒顯微鏡/體式顯微鏡/金相顯微鏡
放大倍率 16X-200X/20X-4000X
移動(dòng)行程 X-Y軸行程2英寸*2英寸/水平360度旋轉(zhuǎn),Z軸行程50.8mm
光源 外置LED環(huán)形光源/同軸光源
CCD 200萬像素/500萬像素/1200萬像素
◆定位器
X-Y-Z移動(dòng)行程 12mm*12mm*12mm
移動(dòng)精度 10微米/2微米/0.7微米/0.5微米
吸附方式 磁力吸附/真空吸附
線纜 同軸線/三軸線
漏電精度 10pA/100fA/10fA
固定探針 彈簧固定/管狀固定
接頭類型 BNC/三軸/香蕉頭/鱷魚夾/接線端子
針尖直徑 0.2微米/1微米/2微米/5微米/10微米/20微米
針尖材質(zhì) 鎢鋼/鈹銅
◆可選附件
加熱臺(tái)
顯示器
轉(zhuǎn)接頭
射頻測(cè)試配件
屏蔽箱
光學(xué)平臺(tái)
鍍金卡盤
光電測(cè)試配件
高壓測(cè)試配件
顯微鏡快速傾仰裝置
激光系統(tǒng)
探針卡夾具


PS:探針臺(tái)可根據(jù)客戶要求定制。

規(guī)格及設(shè)計(jì)如有更改,恕不另行通知






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