創(chuàng)見性人機(jī)學(xué)設(shè)計(jì)，產(chǎn)品細(xì)節(jié)考慮全面。
防靜電------防靜電設(shè)計(jì)可以釋放顯微鏡內(nèi)不斷產(chǎn)生的靜電,防止標(biāo)本被損壞,保證提高產(chǎn)量和降低產(chǎn)品成本
教學(xué)示范，生物工程,IT產(chǎn)業(yè)檢測(cè)，材料分析等領(lǐng)域。
與探針臺(tái)搭配實(shí)物圖：
CS-4 small probe station
Small size, modular design, light weight, up to 6 inch wafer, for I-V/C-V, PIV, optoelectronic tests, applicable to glove box
CL-6 middle-sized probe station
Modular design, precise screw drive structure, up to 8 inch wafer, upgradable for RF test, high current test and laser repair applications.
CH-8-D
CINDBEST CH-8-D 雙面點(diǎn)針探針臺(tái)可用于晶圓和PCB板測(cè)試，用于需要正面和背面同時(shí)扎針，以實(shí)現(xiàn)各種光/電性能測(cè)試需求的測(cè)試設(shè)備。該定制探針臺(tái)具有優(yōu)良的機(jī)械系統(tǒng)，穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)，符合人體工程學(xué)，以及多項(xiàng)升級(jí)功能�？蓮V泛應(yīng)用于集成電路、Wafer ， LED、LCD、太陽(yáng)能電池等行業(yè)的制造和研究領(lǐng)域。
