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探針臺(tái)
CRX-SM低溫超導(dǎo)真空探針臺(tái)

溫度范圍8K-300K

應(yīng)用領(lǐng)域包括:IV / CV / 微波 / 光電實(shí)驗(yàn)測(cè)試 / 超導(dǎo)垂直磁場(chǎng)測(cè)量 /低溫測(cè)試


允許非監(jiān)督降溫:不需要用戶一直監(jiān)視就可以降溫冷卻;

研究者可通過它來執(zhí)行霍爾測(cè)量和磁輸運(yùn)測(cè)量。





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CINDBEST CRX|SM 低溫超導(dǎo)真空探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)



特點(diǎn)/應(yīng)用

  • 2英寸樣臺(tái) 溫度范圍:8K-300K

  • 垂直超導(dǎo)磁場(chǎng)

  • 全溫區(qū)內(nèi)垂直磁場(chǎng)強(qiáng)度:±3T

  • 6個(gè)探針臂接口

  • 允許非監(jiān)督降溫

  • 循環(huán)電制冷,無需制冷劑

  • 一鍵制冷、一鍵回溫、自動(dòng)控溫、自動(dòng)控場(chǎng)

  • 自動(dòng)測(cè)試功能




高低溫真空探針臺(tái)

◆ 腔體規(guī)格
型號(hào) CRX-SM
樣品臺(tái)尺寸 2英寸
樣品固定 彈簧壓片
觀察窗口 50mm
真空度 3*10-5(Torr)
探針臂接口 最多6個(gè)探針臂接口
其他接口 電信接口、真空接口、光纖接口、冷源接口
制冷方式 GM制冷機(jī)
溫度范圍 8K到300K
溫控精度 0.1K/0.01K/0.001K
穩(wěn)定性 <10K@±50mK,10K到100K@±10mK 100K到300K@±10mK
外形 872mmW*962mmD*1400mmH
重量 約130千克
磁場(chǎng)
磁場(chǎng)類型 超導(dǎo)磁體
磁場(chǎng)方向 垂直
磁場(chǎng)控制 電流控制
磁場(chǎng)大小 ±3T(8K~300K全溫區(qū)范圍內(nèi))
磁場(chǎng)均勻性 0.5%10mm直徑;1%25%mm直徑
◆ 光學(xué)系統(tǒng)
顯微鏡類型 單筒顯微鏡/體式顯微鏡/金相顯微鏡
放大倍率 16X-200X/20X-4000X
移動(dòng)行程 水平360度旋轉(zhuǎn),Z軸行程50.8mm
光源 同軸光源
CCD 200萬像素/1200萬像素
◆ 探針臂
X-Y-Z移動(dòng)行程 25mm*70mm*15mm
結(jié)構(gòu) 外置探針臂,真空波紋管結(jié)構(gòu)
移動(dòng)精度 2微米
線纜 同軸線/三軸線/射頻線
漏電精度 10pA/100fA/10fA
固定探針 螺絲固定
接頭類型 BNC/三軸/香蕉頭/鱷魚夾/接線端子
頻率支持 DC-67GHZ
針尖直徑 10um/20um/50um
◆其他組件
真空組件 分子泵組
冷源組件 制冷機(jī)
◆可選附件
超高溫配件
顯示器
轉(zhuǎn)接頭
射頻測(cè)試配件
屏蔽箱
光學(xué)平臺(tái)
鍍金卡盤
光電測(cè)試配件
高壓測(cè)試配件
分子泵組
激光系統(tǒng)
氣敏測(cè)試配件



PS:探針臺(tái)可根據(jù)客戶要求定制。
規(guī)格及設(shè)計(jì)如有更改,恕不另行通知。

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